国外开发出可使用多种中子源的半导体软错误率评估方法

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由日本京都大学科研人员负责的产学协同软错误研究团队，开发了一种可使用不同中子源获取半导体软错误率的方法。

软错误率一般通过在地面上再现宇宙射线环境的特殊中子源进行实验评估。而该方法则是通过将任意中子源的1个测量结果和数值模拟进行组合求得软错误率。科研人员使用来自3个设施的7种类型中子源的测量值和高能粒子与重离子运动分析代码程序PHITS（Particle and Heavy Ion Transport code System）评估软错误率，验证了该方法的有效性。采用这种方法，科研人员可以使用大量的通用中子源来评估软错误率，满足日益增长的软错误率评估需求。相关研究成果发表于国际学术期刊《IEEE Transactions on Nuclear Science》。

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